プリズム カプラ Model 2010/M


屈折率・膜厚測定装置

プリズム カプラ Model 2010/M

メトリコン社は1980年にPC-200型プリズム薄膜・ バルク材料・光導波路評価装置として世界初の商業プリズムカップリング装置を提供以来、これまでに1000台以上のメトリコンシステムの納⼊実績があります。その最先端の⼤学・研究機関と企業40カ国以上から何百もの論⽂が発表されています。
メトリコンの第四世代、モデル2010/Mプリズムカプラは、エリプソメータ、 アッベ屈折計を含む汎⽤計測器にないユニークな利点を提供します。
屈折率精度と分解能 屈折率精度:±0.0001
屈折率分解能:±0.00008

資料請求   Metoricon

ユニークな利点

  • 事前のモデリング不要
  • 前処理不要、マッチング液不要
  • 広範囲なアプリケーション
  • (屈折率 vs 波長)の高い確度精度測定とdn/dT
  • 最大可能な屈折率値〜3.3ぐらいまで

広範囲なアプリケーションに対応

  • 薄膜およびバルク材料の屈折率 vs 波長分散測定
  • 屈折率、膜厚、及び光導波路の伝搬損失測定
  • ディスプレイ用途のための柔軟なポリマーフイルムの屈折率/複屈折および分散測定
  • 配向または押出ポリマーフイルムの配向/結晶化度/複屈折/屈折率測定
  • エポキシ/ゲル/カプセル材料/屈折率整合材料の屈折率測定
  • 柔軟なポリマーおよび他基材上のコーティング膜厚及び屈折率測定
  • 薄膜およびバルク材の屈折率 vs 温度測定(dn/dT)
  • コンタクトレンズの(アッベ数を含む)屈折率分散測定
  • 液体の屈折率測定
  • レンズコーティングの屈折率/膜厚、眼鏡レンズの屈折率測定
  • 光導波路およびポリマーの屈折率勾配測定
  • ナノ材料や他のドーパントの影響による屈折率測定
  • 電気光学係数の(EO)測定
  • バイオセンサー用表面プラズモン共鳴(SPR)の評価
  • Model 2010/M Prism CouplerはMetricon社の商標または登録商標です。